Il materiale monocristallino in carburo di silicio (SiC) ha un'ampia larghezza di banda proibita (~Si 3 volte), elevata conduttività termica (~Si 3,3 volte o GaAs 10 volte), elevata velocità di migrazione della saturazione elettronica (~Si 2,5 volte), elevata degradazione elettrica campo (~Si 10 volte o GaAs 5 volte) e altre caratteristiche eccezionali.
I materiali semiconduttori di terza generazione includono principalmente SiC, GaN, diamante, ecc., poiché la larghezza del gap di banda (Eg) è maggiore o uguale a 2,3 elettronvolt (eV), noti anche come materiali semiconduttori con gap di banda larga. Rispetto ai materiali semiconduttori di prima e seconda generazione, i materiali semiconduttori di terza generazione presentano i vantaggi di elevata conduttività termica, campo elettrico ad alta degradazione, elevato tasso di migrazione degli elettroni saturi ed elevata energia di legame, che possono soddisfare i nuovi requisiti della moderna tecnologia elettronica per un'elevata temperatura, alta potenza, alta pressione, alta frequenza e resistenza alle radiazioni e altre condizioni difficili. Ha importanti prospettive di applicazione nei settori della difesa nazionale, dell'aviazione, dell'aerospaziale, dell'esplorazione petrolifera, dello stoccaggio ottico, ecc. e può ridurre la perdita di energia di oltre il 50% in molti settori strategici come le comunicazioni a banda larga, l'energia solare, la produzione automobilistica, illuminazione a semiconduttori e reti intelligenti e può ridurre il volume delle apparecchiature di oltre il 75%, il che rappresenta una pietra miliare per lo sviluppo della scienza e della tecnologia umana.
Semicera Energy è in grado di fornire ai clienti substrati in carburo di silicio conduttivo (conduttivo), semi-isolante (semi-isolante), HPSI (semi-isolante ad alta purezza); Inoltre possiamo fornire ai clienti lastre epitassiali in carburo di silicio omogenee ed eterogenee; Possiamo inoltre personalizzare la lamiera epitassiale secondo le specifiche esigenze dei clienti, e non è previsto alcun quantitativo minimo d'ordine.
SPECIFICHE BASE DEL PRODOTTO
Misurare | 6 pollici |
Diametro | 150,0 mm+0 mm/-0,2 mm |
Orientamento della superficie | fuori asse:4°verso<1120>±0,5° |
Lunghezza piatta primaria | 47,5 mm1,5 mm |
Orientamento piatto primario | <1120>±1,0° |
Appartamento secondario | Nessuno |
Spessore | 350,0um±25,0um |
Politipo | 4H |
Tipo conduttivo | tipo n |
SPECIFICHE DELLA QUALITÀ DEL CRISTALLO
6 pollici | ||
Articolo | Grado P-MOS | Grado P-SBD |
Resistività | 0,015Ω·cm-0,025Ω·cm | |
Politipo | Nessuno consentito | |
Densità del microtubo | ≤0,2/cm2 | ≤0,5/cm2 |
EPD | ≤4000/cm2 | ≤8000/cm2 |
TED | ≤3000/cm2 | ≤6000/cm2 |
BPD | ≤1000/cm2 | ≤2000/cm2 |
TSD | ≤300/cm2 | ≤1000/cm2 |
SF (misurato da UV-PL-355nm) | ≤0,5% dell'area | ≤1% dell'area |
Piastre esagonali con luce ad alta intensità | Nessuno consentito | |
Visual CarbonInclusioni mediante luce ad alta intensità | Area cumulativa ≤ 0,05% |