Epitassia SiC

Breve descrizione:

Weitai offre epitassia SiC personalizzata a film sottile (carburo di silicio) su substrati per lo sviluppo di dispositivi in ​​carburo di silicio.Weitai si impegna a fornire prodotti di qualità e prezzi competitivi e non vediamo l'ora di essere il vostro partner a lungo termine in Cina.


Dettagli del prodotto

Tag dei prodotti

Epitassia SiC (2)(1)

Descrizione del prodotto

wafer di semi sic 4h-n 4 pollici 6 pollici dia100mm spessore 1 mm per la crescita del lingotto

Dimensioni personalizzate/Lingotti SIC da 2 pollici/3 pollici/4 pollici/6 pollici 6H-N/4H-SEMI/ 4H-N/Lingotti SIC 4H-N 4 pollici 4 pollici 6 pollici diametro 150 mm Substrati in carburo di silicio a cristallo singolo (sic) ad alta purezzaS/ Wafer sic tagliati personalizzatiProduzione da 4 pollici Wafer SIC di grado 4H-N da 1,5 mm per cristalli di semi

Informazioni sul cristallo di carburo di silicio (SiC).

Il carburo di silicio (SiC), noto anche come carborundum, è un semiconduttore contenente silicio e carbonio con formula chimica SiC.Il SiC viene utilizzato nei dispositivi elettronici a semiconduttore che funzionano a temperature elevate o ad alte tensioni, o entrambi. Il SiC è anche uno dei componenti LED importanti, è un substrato popolare per i dispositivi GaN in crescita e funge anche da diffusore di calore in LED di potenza.

Descrizione

Proprietà

4H-SiC, cristallo singolo

6H-SiC, cristallo singolo

Parametri del reticolo

a=3.076 Å c=10.053 Å

a=3.073 Å c=15.117 Å

Sequenza di impilamento

ABCB

ABCACB

Durezza di Mohs

≈9.2

≈9.2

Densità

3,21 g/cm3

3,21 g/cm3

Terme.Coefficiente di espansione

4-5×10-6/K

4-5×10-6/K

Indice di rifrazione @750nm

no = 2,61
ne = 2,66

no = 2,60
ne = 2,65

Costante dielettrica

c~9.66

c~9.66

Conduttività termica (tipo N, 0,02 ohm.cm)

a~4,2 W/cm·K@298K
c~3,7 W/cm·K@298K

 

Conducibilità termica (semi-isolante)

a~4,9 W/cm·K@298K
c~3,9 W/cm·K@298K

a~4,6 W/cm·K@298K
c~3,2 W/cm·K@298K

Bandgap

3,23 eV

3,02 eV

Campo elettrico di guasto

3-5×106V/cm

3-5×106V/cm

Velocità di deriva della saturazione

2,0×105 m/s

2,0×105 m/s

Wafer SiC

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